本书简述了SEC测试的作用，以及如何用其维护工艺控制及支撑客观证据。在评估设备方法和操作方法时，介绍了SEC设备和技术细节。探讨了包括溶液选择、溶液敏感性和测试持续时间在内的若干问题。涉及CO2吸收的影响，以及如何为此校准仪器。讨论了溶液密度变化和温度影响。详述了“开环”和“闭环”两种循环方式。本书涵盖了与腐蚀相关的工艺控制的重要元素。避免ECM很重要，本书介绍了采用SIR验证工艺的初始客观证据，然后使用如PICT测试中所述的SEC维护该工艺。最后，总结了SEC方法的参数，强调了关键的敏感性。
ISBN: 978-1-959894-11-7
Dr Chris Hunt
GEN3首席技术官
Chris Hunt博士任GEN3公司首席技术官 （CTO），领导公司产品组合的技术开发。他曾 在英国国家计量研究所、国家物理实验室工作 40多年。最初，Chris在Ernie Hondros FRS领导的表面分析小组工作，做了关于二次离子质 谱和溅射深度剖面的一些工作。他还在Alan Turnbull FRS从事钢晶间应力腐蚀开裂领域的工作，并在那里获得了博 士学位。Chris随后构建了新的电子互连领域小组。在构建这个团队的过程中，Chris大量参与标准工作，后成为英国和IEC电子组装委员会的主席。大 部分标准工作都与表面绝缘电阻测量和导电阳极丝方面相关。 Chris获得了许多奖项，包括：IPC APEX EXPO最佳国际论文奖；Serco环境 主席奖；旨在奖励参与标准制定的IEC 1906 Kelvin奖；因焊接和表面贴装 技术论文而获得具有高度赞誉的Literati俱乐部奖。Chris在同行评审的科 学期刊上发表了40多篇论文，在公开文献中发表了130多篇NPL科学报告，在研讨会议中发表了70多篇论文。 Chris发明了一种新的纺织物导电技术，并获得了全球注册专利。虽然最初 的工作是在NPL完成的，但该项目被分拆出来，吸引了大量的风险投资。尽 管成功地展示了这项技术，但该公司未能吸引到足够的业务，因此关闭。随后Chris加入GEN3公司，将其丰富的经验用于开发公司的技术。
关于GEN3
GEN3的三代人不断为电子行业设计、制造和供应测试和测 量设备，避免贵公司的电路在现场运行时发生失效。 我们追求卓越，享誉全球。我们的团队由行业专家组成，他们致力于为电路测试、测量和符合性制定标准。我们们与重要 的行业协会合作，提供我们猜到的的经验和专业知识，从而让业界都知道如何取得成功。GEN3是追求产品保护的客户的首选，精度是我们的标准，我们的目标是行业的导师和最前线的卫士。 在高可靠性领域，存在太多的风险，必须杜绝错误。测试必须是有限且无缺陷的。GEN3了解您对精确的需求，您的风险越低，离完美越近。为帮助读者了解IPC-J-STD-001H版规定的对客观证据的要求，GEN3创建了有帮助的辅助工具。有关详细信息，可访问 www.objectiveevidence.org章节
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